细粉加工设备(20-400目)
我公司自主研发的MTW欧版磨、LM立式磨等细粉加工设备，拥有多项国家专利，能够将石灰石、方解石、碳酸钙、重晶石、石膏、膨润土等物料研磨至20-400目，是您在电厂脱硫、煤粉制备、重钙加工等工业制粉领域的得力助手。
超细粉加工设备(400-3250目)
LUM超细立磨、MW环辊微粉磨吸收现代工业磨粉技术，专注于400-3250目范围内超细粉磨加工，细度可调可控，突破超细粉加工产能瓶颈，是超细粉加工领域粉磨装备的良好选择。
粗粉加工设备(0-3MM)
兼具磨粉机和破碎机性能优势，产量高、破碎比大、成品率高，在粗粉加工方面成绩斐然。
X射线硅酸盐吸收光谱
矿物中硅的配位与局部结构的同步辐射K边X射线吸收
本文采用了同步辐射作光源得到的硅K边X射线吸收光谱来研究硅在硅酸盐矿物和无机材料中的配位与局部结构 矿物中硅的配位与局部结构的同步辐射K边X射线吸收光谱研究本文介绍了对由无定形二氧化硅和 KOH 合成的无机聚合物的组成和结构特征的研究结果。 使用傅里叶变换红外光谱 (FTIR)、X 射线光电子能谱 (XPS)、扫描电子显微镜 (SEM) 和 X 射线衍射 硅酸盐聚合物的 XPS 和 FTIR 研究,Journal of Materials Science 2005年1月21日 对于硅酸盐，分别使用 X 射线光电子能谱 (XPS) 和 X 射线俄歇电子能谱 (XAES) 测量 Si 2p 电子的结合能和 Si (KLL) X 射线激发态的动能与各种聚合类型的 SiO4 四面体。 由 硅酸盐聚合结构对硅 X 射线光电子能谱的化学位移 XAS是Xray Absorption Spectra的缩写，全称为 X射线吸收光谱。 X射线透过样品后，其强度发生衰减且衰减程度与样品的结构、组成密切有关。 这种研究透射强度I与入射X射线强度Io之间的关系，称为X射线吸收光谱；由于其透射光强与原 X射线“吸收光谱“知识 知乎本文采用同步辐射的 Si K边 X射线吸收近边结构 (XANES)谱研究了 Si在 Si O2 P2 O5 和 Na2 OSi O2 P2 O5 的低压磷硅酸盐玻璃中结构与配位 ,以及 Si的配位几何随玻璃中 P2 O5 含量而 在硅酸盐矿物,玻璃和熔体中Si和Al的配位与局部结构:K 2015年6月21日 前人采用x射线衍射、x射线散射、x射线发射、红外 和喇曼光谱、魔角自旋核磁共振（MAS MNR）和分子动力学模拟等方法进行了研究”“。 但大 部分作者认为hk主要是位于 矿物与玻璃中MgK－边X射线吸收光谱研究 豆丁网
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矿物中硅的配位与局部结构的同步辐射K边X射线吸收
在通常的硅酸盐矿物中,硅为四面体配位但在下地幔的高温高压条件下(大于10GPa),硅主要为八面体配位此外,八面体配位的硅也出现在某些合成硅酸盐化合物中X射线晶体结构分析,红外 2015年6月15日 射线吸收光谱已经研究了硅酸盐 矿物 ~Al 硅酸盐矿物和玻璃中的主要阴离子 Si,Al边 射线吸收近边结构 (ANS) 谱 [26] 指出了 Si,Al 随着压力 变化而引起 Si,Al边向高能位 硅酸盐玻璃中的Na,Mg K边XANES谱研究 Na and Mg Kedge 为了提高硅酸盐岩石成分分析的精确度和操作效率,推动我国材料事业发展和地质工作深入发展,本文采取高温熔融制样的方法,用X射线荧光光谱法对硅酸盐岩石中的主次成分进行分析,并通过 X射线荧光光谱法测定高硅硅酸盐岩石中的主次成分对两种硼硅酸盐废玻璃系列进行 Fe K 边 X 射线吸收光谱 (XAS)，以确定各种氧化还原合成条件下的 Fe 价态和配位变化。还收集了八种铁硅酸盐标准品的数据，包括用作四面体 Fe 2+ O 4标准品的稀有相斑铁矿。Fe 2+ O 4、Fe 2+ O 5和 Fe 3+ O 4标准数据与玻璃 各种氧化还原条件下合成的硼硅酸盐废玻璃中 Fe 环境 2020年7月3日 钾（K）和钙（Ca）K边缘X射线吸收近边缘（XANES）光谱是对33种化合物和地质材料进行的，包括化学试剂，有机金属化合物，硅酸盐，碳酸盐和火成岩参考材料。结果证实了钾的精细结构标本边缘是独特且可区分的。结果表明，组成和局部原子变化强烈地调节了光谱特性。化合物和矿物质中的钾和钙K边缘XANES：地质相鉴定的 多道能谱仪、X 射线激发发射光谱 仪、紫外可见分光光度计、2D/3D 热释光光谱仪、余辉测试仪 多温区晶体下降炉 版权所有 中国科学院上海硅酸盐研究所 沪ICP备号1 沪公网安备565 号 长宁园区上海市长宁区定西路1295号 仪器设备中国科学院上海硅酸盐研究所
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在硅酸盐矿物,玻璃和熔体中Si和Al的配位与局部结构:K
摘要： 本文采用同步辐射的 Si K边 X射线吸收近边结构 (XANES)谱研究了 Si在 Si O2 P2 O5 和 Na2 OSi O2 P2 O5 的低压磷硅酸盐玻璃中结构与配位 ,以及 Si的配位几何随玻璃中 P2 O5 含量而变化 :同步辐射的 AlK边 XANES谱研究了 Al在铝硅酸盐成分为 Na X 射线辐照低温热释光系统，主要用于测试 X 射线（钨靶）激发下的紫外－可见荧光发射光谱以及热释光谱（可用 X 射线 版权所有 中国科学院上海硅酸盐研究所 沪ICP备号1 沪公网安备565 号 长宁园区上海市长宁区定西路1295 仪器设备中国科学院上海硅酸盐研究所 CASHo3＋／Yb3＋共掺微晶玻璃的X射线衍射（XRD）图谱、透射电镜（TEM）谱、吸收光谱和上转换发光光谱。 根据 Scherrer公式计算了CaF 2 微晶的平均晶粒尺寸，并与TEM谱进行比对；利用晶体生长动力学理论研究了纳米共掺的氧氟硅酸盐微晶玻璃上转换发光 Researching利用X射线粉末衍射、 红外光谱、 磁微扰及热微扰下的二维红外光谱、 固体紫外可见漫反射光谱和热重分析等方法对化合物进行研究。 X射线粉末衍射(XRD)显示, 化合物测试谱图和单晶结构数据模拟谱图主要峰位重合, 峰形基本一致, 表明合成的化合物较纯。硅钨酸晶体合成和谱学研究及与罗丹明B复合反应探索摘要 我们使用 X 射线吸收光谱、拉曼光谱和 27Al 和 29Si NMR 对含有 020 wt% ZrO2 的 CaNa 铝硅酸盐玻璃进行了详细的结构研究。X 射线吸收光谱数据表明，Zr 主要存在于 ZrO6 八面体中，但随着 ZrO2 含量的增加，Zr 配位发生显着变化。尽管 Al 和 Zr 竞争被 高氧化锆铝硅酸盐玻璃的结构演变,Journal of Non 2021年7月8日 在目前的研究，合成硅酸钙水合物具有不同钙含量的硅酸盐结构的发展，随后通过在原位红外（IR）光谱和关联于在原位相发展通过X射线衍射（XRD）来评价。最初为X射线衍射图开发的基线校正方法成功适于指纹区在复杂背景中原位IR，这对信号质量和重现性做出了重大贡 硅酸钙水合物——硅酸盐结构的原位开发及红外光谱
用 Zn K 边扩展 X 射线吸收精细结构光谱分析铝硼硅酸
使用扩展的 X 射线吸收精细结构光谱法确定了非活性核玻璃中 Zn 的结构周围。Zn 存在于四面体配位（[4]Zn）中，[4]ZnO 距离为 195 Å。ZnO4 四面体与 SiO4 四面体 [d(ZnSi) 约 320 Å] 共用角。ZnOSi 键的氧由 Na+ 和在较小程度上由 Cs+ 进行电荷补偿。[4]Zn （中国科学院上海硅酸盐研究所，上海 ） 摘要：X射线荧光光谱 分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和 痕量元素的首选方法之一，在无损分析和原位分析中具有不可替代的地位。文章评述了三十年来X射线荧 X射线荧光光谱三十年2013年10月17日 X射线吸收光谱(XAS)应用于矿物学中研究元素的局部结构特征,吸收元素的氧化态, 硅酸盐玻璃中总是保持为四面体配位,因为AlGPaand1575cuthe~o~teBtofNaA1 一 或Si 的八面体配位会破坏玻璃的周期性从而:O【]compositionmpercentage) 一#}铝硅酸盐矿物和玻璃中Al的配位与局部结构 豆丁网2023年10月8日 利用X射线荧光光谱法可对粉煤灰中主要无机元素进行测定[2]。此外,对于矿物质估算,还可以 (Si)相关的最强吸收峰;在约460 cm1处与硅酸盐四面体中与弯曲振动OSiO键相关的吸收峰和双态800～780 cm1处与硅氧烷桥对称伸缩振动相关的吸收 峰。这种 粉煤灰的红外光谱研究 参考网硅酸盐矿物是固体行星必不可少的砖块，红外吸收光谱对其进行了深入研究。随着行星探测的快速发展，矿物的红外发射光谱和相应的辐射特性也受到关注。然而，迄今为止还缺乏使用红外发射光谱对硅酸盐矿物的系统研究。在这项工作中，使用 X 射线衍射、X 射线荧光和红外光谱（吸收和发 通过中红外吸收和发射光谱对硅酸盐矿物的振动和 硅元素的常用检测方法主要包括 原子吸收光谱法 (AAS)、电感耦合等离子体质谱法 (ICPMS)、X射线荧光光谱法 (XRF)、原子荧光光谱法(AFS)等。 硅元素的常用检测方法包括化学分析、光谱分析、质谱分析和仪器分析等多种技术。硅元素及常用检测方法 知乎
铝硼硅酸盐玻璃的结构，光学和介电性能,Journal of
从X射线衍射图已经证实了玻璃的无定形性质。 使用傅里叶变换红外光谱研究的玻璃的结构行为显示出许多吸收峰，这是由于SiOB键的弯曲，SiOSi和BOB在SiO 4和BO 4结构单元中的拉伸振动所致。所有玻璃的傅里叶变换拉曼光谱均表现出不同的光谱带，并且 摘要 使用铁 K 边 X 射线吸收近边结构 (XANES) 光谱原位研究了硅酸盐熔体中 Fe(II) 和 Fe(III) 的局部结构。空气动力学悬浮和激光加热系统用于在无污染的情况下获得高温，并与腔室和气体混合系统相结合，通过对大气的系统控制来改变铁的氧化态 Fe 3+ /ΣFe氧逸度。空气动力学悬浮的硅酸盐熔体和玻璃的铁 K 边 X 射线 张勇, 朱金铭, 杨丽丽, 吕世权, 武彦群, 楚学娟 Dy 3+ 对Tb 3+ 激活硅酸盐氟氧闪烁玻璃发光性能的影响 [J] 光谱学与光谱分析, 2019,39(5): 14121419 ZHANG Yong, ZHU Jinming, YANG Lili, L#cod#x000dc; Shiquan, WU Yanqun, CHU Xuejuan Effect of Dy 3+ on Luminescence Properties of Tb 3+ Activated Silicate Oxyfluoride Scintillating Glass [J]Dy 3+ 对Tb 3+ 激活硅酸盐氟氧闪烁玻璃发光性能的影响等离子体发射光谱（ICPOES）和等离子体质谱（ICPMS）定性、半定量和定量分析；原子吸收光谱（AAS 版权所有 中国科学院上海硅酸盐研究所 沪ICP备号1 沪公网安备565 号 长宁园区上海市长宁区定西路1295号 86 检测项目中国科学院上海硅酸盐研究所31白炭黑的红外光谱 白炭黑是白色粉末状X射线无定形硅酸和硅酸盐产品的总称，主要是指沉淀二氧化硅、 4结论1 在以上所研究的不同来源的二氧化硅中，每种均具有1090 cm附近的SiOSi反对称伸11二氧化硅的红外光谱特征研究 百度文库先前的工作表明，钒的添加减少了黄相的形成并增加了Mo的溶解度。X射线吸收光谱（XAS）和拉曼光谱用于表征HLW硼硅酸盐玻璃中的Mo环境并研究Mo和V之间的可能结构关系。该玻璃的Mo XAS光谱表明，分离的四面体Mo 6+ O 4与MoO距离接近175Å。硼硅酸盐废玻璃中钼环境的X射线吸收和拉曼光谱研究
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二氧化硅的红外光谱特征研究doc 豆丁网
31白炭黑的红外光谱 白炭黑是白色粉末状X射线无定形硅酸和硅酸盐产品的总称，主要是指沉淀二氧化硅、气相二氧化硅、超细二氧化硅凝胶和气凝胶，也包括粉末状合成硅酸铝和硅酸钙等。白炭黑 化学式SiO 2nH 2 O即水合二氧化硅。图6为白炭黑（由稻壳，按X 射线吸收光谱在 Al、Mg、Fe、和 Cr Kedges 用于研究吸附的铬种类。蒙脱石样品不受 Cr(VI) 溶液处理的影响，在任何研究边缘都没有显示出任何变化。铬铁矿中镁和铝光谱的边缘形状和能量也没有改变，绿泥石中的变化很小。含 Fe (II) 的层状硅酸盐对铬的还原和吸附：化学处理 该研究表明，合成的 MgAl硅酸盐水合物和 MgAlNa 硅酸盐水合物（MASH 和 MNASH）的 X 射线近边光谱显示出与 MSH 的明显差异，表明其结构中可能存在 Al。 光谱与天然含 MgAl 的页硅酸盐（即斜绿石）具有 TOT O 层状结构的极大相似性进一步支持了这一点。通过 X 射线吸收近边光谱法表征镁（钠）硅酸铝 X射线激发的发射光谱 1红外吸收光谱法 当使用一定频率的连续红外光照射某一 采用传统方法制备了Ce3+和Tb3+掺杂的硼硅酸盐玻璃样品。应用紫外可见分光光度 1999年10月10日 我们利用同步辐射X射线吸收光谱已经研究了硅酸盐矿物、铝硅酸盐矿物和玻璃中的主要阴离子Si、AlK边X射线吸收光谱 X射线硅酸盐吸收光谱2018年2月27日 硅酸盐的组分含量分析通常采用的是滴定法、容量法、分光光度法和原子吸收光谱法等[3]。 性好、准确、能进行多种元素分析的特点，并且已经用于多种物料的分析[4]。但目前对于硅酸锆X射线荧光光谱法分析的报道不多，都是采用仪器 X射线荧光光谱法测定硅酸锆方法研究参考网锆元素的常用检测方法主要包括 原子吸收光谱法 (AAS)、电感耦合等离子体质谱法 (ICPMS)、X射线荧光光谱法 (XRF)等。原子吸收光谱法(AAS)：AAS是一种常用的定量分析方法，适用于测定溶液中的锆含量。该方法基于样品中目标元素吸收特定波长的光线时的40 锆元素及其常用检测方法 知乎
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各种氧化还原条件下合成的硼硅酸盐废玻璃中 Fe 环境
对两种硼硅酸盐废玻璃系列进行 Fe K 边 X 射线吸收光谱 (XAS)，以确定各种氧化还原合成条件下的 Fe 价态和配位变化。还收集了八种铁硅酸盐标准品的数据，包括用作四面体 Fe 2+ O 4标准品的稀有相斑铁矿。Fe 2+ O 4、Fe 2+ O 5和 Fe 3+ O 4标准数据与玻璃 2020年7月3日 钾（K）和钙（Ca）K边缘X射线吸收近边缘（XANES）光谱是对33种化合物和地质材料进行的，包括化学试剂，有机金属化合物，硅酸盐，碳酸盐和火成岩参考材料。结果证实了钾的精细结构标本边缘是独特且可区分的。结果表明，组成和局部原子变化强烈地调节了光谱特性。化合物和矿物质中的钾和钙K边缘XANES：地质相鉴定的 多道能谱仪、X 射线激发发射光谱 仪、紫外可见分光光度计、2D/3D 热释光光谱仪、余辉测试仪 多温区晶体下降炉 版权所有 中国科学院上海硅酸盐研究所 沪ICP备号1 沪公网安备565 号 长宁园区上海市长宁区定西路1295号 仪器设备中国科学院上海硅酸盐研究所摘要： 本文采用同步辐射的 Si K边 X射线吸收近边结构 (XANES)谱研究了 Si在 Si O2 P2 O5 和 Na2 OSi O2 P2 O5 的低压磷硅酸盐玻璃中结构与配位 ,以及 Si的配位几何随玻璃中 P2 O5 含量而变化 :同步辐射的 AlK边 XANES谱研究了 Al在铝硅酸盐成分为 Na 在硅酸盐矿物,玻璃和熔体中Si和Al的配位与局部结构:K X 射线辐照低温热释光系统，主要用于测试 X 射线（钨靶）激发下的紫外－可见荧光发射光谱以及热释光谱（可用 X 射线 版权所有 中国科学院上海硅酸盐研究所 沪ICP备号1 沪公网安备565 号 长宁园区上海市长宁区定西路1295 仪器设备中国科学院上海硅酸盐研究所 CASHo3＋／Yb3＋共掺微晶玻璃的X射线衍射（XRD）图谱、透射电镜（TEM）谱、吸收光谱和上转换发光光谱。 根据 Scherrer公式计算了CaF 2 微晶的平均晶粒尺寸，并与TEM谱进行比对；利用晶体生长动力学理论研究了纳米共掺的氧氟硅酸盐微晶玻璃上转换发光 Researching
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